走査プローブ顕微鏡: SPM, AFM

2015.04.05
実験装置

走査プローブ顕微鏡(SPM)は、微細な先端をもつ探針を走査して物質表面をなぞり、形状を明らかにする顕微鏡。

試料表面の原子との相互作用力を検出しながら像を得る顕微鏡を、原子間力顕微鏡（AFM）という。

SPMでは、像の細やかさ（分解能）は、探針の曲率半径が大きく影響する。通常のシリコン探針は、曲率～２０ナノメートル程度だが、カーボンナノチューブを先端に取り付けた探針を用いれば、より高分解能が実現する。また、平らな基板上に配置したナノ物質単体を、探針を使って動かすことができるので、一本の探針を使って観察とナノ物質操作の両方が行える。

本研究室では、大気中、水中での像を得るだけでなく、CNT１本レベルの、ナノスケールでの力計測や、ヤモリテープの接着力評価などにも用いている。