走査電子顕微鏡：SEM

• 2015.04.05
• 実験装置

真空中の物体表面に細く絞った電子線を照射しながら走査したときに、各地点で発生する２次電子線や反射電子線などの信号をそれぞれの検出器を用いて取り出し、 その強度をモニタ上に輝点列の像として表示する電子顕微鏡。

本研究室では、合成物の表面構造や凝集形態の評価を行うだけでなく、ナノマニピュレータを用いてマイクロ・ナノスケールの力学試験、力計測、電圧印加などが行える。

 

 

• 前の記事
  

  CVD炉 2015.04.05

• 次の記事
  

  透過電子顕微鏡：TEM 2015.04.05