高分解能透過電子顕微鏡(HRTEM)
JEOL JEM-2500SE



tem2500_2.png

高分解能透過電子顕微鏡(HRTEM)
JEOL JEM-2500SE

GSE W-B112

 炭素など軽元素の観察のために加速電圧90kVで調整された、 高分解能透過電子顕微鏡(HRTEM)。
 これにマニピュレータを組み込み(→スーパーナノファクトリー)、 ナノ構造体の加工プロセスなどを直接観察できる。
 また、ナノ電子回折モードにより、数ナノメートルの領域から電子回折図形が得られ、 ローカルな領域での結晶構造が解析できる。
 走査電子顕微鏡(SEIモード)、透過走査電子顕微鏡(STEMモード)機能も搭載し、 試料形状、観察目的に応じて使い分けられる。



戻る